BX53P偏光測量顯微鏡

產(chǎn)品簡介
BX53P偏光測量顯微鏡使用UIS2校正光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)設(shè)計組合的BX53-P偏光顯微鏡在偏光應(yīng)用時提供了性能。可擴展的補償器使BX53-P有足夠多的功能來處理任何相關(guān)領(lǐng)域中的觀察和測量應(yīng)用。

產(chǎn)品型號：BX53P-

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

實驗檢測儀器

表面3D輪廓儀三維光學(xué)形貌儀材料試驗機光學(xué)軸類測量儀超景深三維顯微鏡粗糙度測量儀共面性測試儀接觸角測定儀一鍵式快速測量儀精密測量投影儀 CNC全自動影像儀 3D三坐標(biāo)測量機快速尺寸測量儀測量金相顯微鏡刀具投影測量儀金相光學(xué)顯微鏡磨刀機顯微鏡測量分析顯微鏡視頻測量顯微鏡金屬材料顯微鏡高倍金相顯微鏡光學(xué)輪廓顯微鏡水滴角界面測量儀界面張力測量儀超低界面張力儀平面度測試儀臥式影像測量儀精密影像測量儀

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BX53P偏光測量顯微鏡校正UIS2光學(xué)系統(tǒng)防止了光學(xué)顯微鏡性能的降低，消除了對顯微鏡光學(xué)放大倍數(shù)的影響，即使在光路中插入偏光元件，比如起偏振片、色板或補償器。在保持高水平系統(tǒng)靈活性的同時，BX53-P也兼容BX3系列系統(tǒng)顯微鏡的中間附件，以及相機和成像系統(tǒng)。

BX53P偏光測量顯微鏡ABX53-P偏光顯微鏡在起偏振片和檢偏振片里配備了高EF值濾色片，提供了的圖像對比度。為滿足研究和應(yīng)用的多樣化要求，萬能型UPLFLN-P系列物鏡采用了適用于多種觀察方法的設(shè)計，包括Nomarski DIC和熒光顯微鏡觀察以及偏光觀察。
* EF（衰減系數(shù)）是平行和交叉偏光濾色片之間的亮度比。EF值越高，消光效果就越好。

BX53-P顯微鏡可以使用6種不同的補償器，能夠測量多種水平延遲，范圍從0到20λ。為使測量更容易，還提供了直接讀數(shù)法。使用Senarmont*或Brace-Koehler補償器可以獲得圖像對比度，以改變整個視野里的延遲水平。
* 與綠色濾色片IF 546或IF 550。

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使用U-CPA錐光鏡觀察附件后，正交偏光和錐光鏡觀察之間的切換簡單而快捷。錐光鏡成像的聚焦輕松而準(zhǔn)確。透鏡視場光闌的使用使其可以持續(xù)獲取銳利而清晰的錐光圖像。

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旋轉(zhuǎn)載物臺安裝的旋轉(zhuǎn)對中裝置能夠順暢地旋轉(zhuǎn)標(biāo)本。此外，為了實施準(zhǔn)確測量，每隔45度就有一個咔噠停止裝置。如果增加了雙機械載物臺，還可以進一步完成X-Y的微小移動。
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